超聲電聲法Zeta電位儀是納米材料的一種重要表征參數(shù)?，F(xiàn)代儀器可以通過簡便的手段快速準確地測得。大致原理為：通過電化學原理將Zeta電位的測量轉化成帶電粒子淌度的測量，而粒子淌度的測量測是通過動態(tài)光散射，運用波的多普勒效應測得。粒子表面存在的凈電荷影響粒子界面周圍區(qū)域的離子分布，導致接近表面抗衡離子（與粒子電荷相反的離子）濃度增加。

 

　　于是，每個粒子周圍均存在雙電層。圍繞粒子的液體層存在兩部分：一是內層區(qū)，稱為Stern層，其中離子與粒子緊緊地結合在一起；另一個是外層分散區(qū)，其中離子不那么緊密的與粒子相吸附。在分散層內，有一個抽象邊界，在邊界內的離子和粒子形成穩(wěn)定實體。當粒子運動時（如由于重力），在此邊界內的離子隨著粒子運動，但此邊界外的離子不隨著粒子運動。這個邊界稱為流體力學剪切層或滑動面（slippingplane）。在這個邊界上存在的電位即稱為Zeta電位。

 

　　超聲電聲法Zeta電位儀的粒度測量方法：

　　（1）晶粒：指單晶顆粒，即顆粒內為單相，無晶界。

　?。?）一次顆粒：指含有低孔隙率的一種獨立的粒子。它能被電子顯微鏡觀察到。

　　（3）團聚體：是由一次顆粒為降低表面勢能而通過范德華力或固定的橋鍵作用形成的更大顆粒。團聚體內含有相互連接的孔隙網(wǎng)絡，它能被電子顯微鏡觀察到。

　?。?）二次顆粒：指人為制造的粉料團聚粒子。如陶瓷工藝中的“造粒”。目前所謂“納米材料”的功能絕大多數(shù)體現(xiàn)為團聚體的功能，若能將團聚體分散成一次顆粒，則將表現(xiàn)出納米顆粒更多的特性。